IC漏电定位被误导了很多年
发布时间:2023-11-10
一提到IC漏电定位大家都认为只有OBIRCH,甚至很多业内人士也认为OBIRCH是一种设备的名称。为避免更多误解,今天小编给大家聊聊这方面的知识。
OBIRCH其实只是一种技术,是早年日本NEC发明并申请了专li。它的原理是:给IC加上电压,使其内部有微小电流流过,同时在芯片表面用激光进行扫描。
激光扫描的同时,对微小电流进行监测,当激光扫到某个位置,电流发生较大变化,设备对这个点进行标记,也就是说这个位置即为失效点。
TIVA是美国人和NEC同期发明的专li,和OBIRCH同等的技术,现在美国半导体产业一直在用。TIVA的原理是:给IC加上一个微小电流流过,同时在芯片表面用激光进行扫描。激光扫描的同时,对IC两端电压进行监测,当激光扫到某个位置,电压发生较大变化,设备对这个点进行标记,也就是说这个位置即为失效点。
OBIRCH是加电压监测电流变化,TIVA是加电流监测电压变化。总之反应出来的都是IC内部阻抗的变化。简单讲就是激光扫描到某点引起了阻抗的明显变化,这个位置就是失效点。新加坡也有一种技术叫VBA(加电压监测电压变化)也是同理。
再次提醒各位,OBIRCH、TIVA、VBA都不是设备名称,只是一种技术而已。这台设备的准确名称叫激光诱导定位系统。
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